<big id="37hz3"></big><big id="37hz3"></big>

<span id="37hz3"></span>
產品中心
熱門品牌展示
產品展示
  • Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000Otsuka大塚|大冢高靈敏度示差折光儀DRM-3000
  • Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀Otsuka大塚內置膜厚監測儀
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型Otsuka大塚膜厚計FE-300薄膜類型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型Otsuka大塚膜厚計FE-300標準型
  • Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300Otsuka大塚膜厚計FE-300
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層OPTM顯微分光膜厚儀OPTM-A3Otsuka大塚膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots
  • 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度**反射率(多層膜厚度,光學常數) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(紫外至近紅外) 區域傳感器的**機制 易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Otsuka大塚 OPTM顯微分光膜厚儀_OPTM-A1_Ots

蘇公網安備 32050502000409號

99热最新网址_99人妻少妇精品视频一区_99人人tv香蕉桃花岛_播放